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FXO-CT1600高分辨纳米CT检测系统

产品特点:FXO-CT1600配备了20-160kV、0.25μm的金刚石窗口X射线源与双探测器,高分辨率探测器:像素矩阵10720×8046 pixels,能获取高动态范围的16位数字图像,探元尺寸6μm和大尺寸平板探测器:成像面积140.1mm×120mm,探元尺寸50μm,用于更广范围内的快速成像,同时集成真空系统确保成像质量,实现40nm的体素尺寸。

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检测图像
系统参数
射线源参数
纳焦点射线源,透射靶,160kV
平板探测器参数
双探测器组合,高分辨率探测器:像素矩阵10720×8046 pixels,能获取高动态范围的16位数字图像,探元尺寸6μm和大尺寸平板探测器:成像面积140.1mm×120mm,探元尺寸50μm
检测精度
极限成像空间分辨率:0.5 μm,原位显微观测分辨率:1 μm @温度≥1500 ℃且真空度≤10 Pa
可检工件
原位观测样品最大尺寸:Φ20 mm, 高温原位环境均温区间尺寸:Φ25 mm
设备参数
总重量:1500kg,外形尺寸:L2000mm*W1100mm*H1900mm
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