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FXO-CT2000微纳级高精度CT检测系统

最高空间分辨率: 0.5μm 最高体素分辨率:65 nm 工作距离(X射线源距样品旋转轴)为50mm处的测试分辨率:1μm 最大样品尺寸:Φ100mmx370mm 扫描试样最大重量:60kg 扫描方式:二维(DR)实时投影,圆轨迹锥束立体成像,超视野锥束立体成像,有限角锥束立体成像,螺旋锥束立体成像,偏置锥束立体成像,自动拼接锥束立体成像

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检测图像
系统参数
射线源参数
微焦点最大管电压190kV
平板探测器参数
像素矩阵3564 x 3564,成像面积295.8295.8(mm²),像素尺寸83μm
高分辨光耦探测器

像素数量4800万,动态范围16bit,物镜包括4倍、10倍、20倍镜头


可检工件
可定制


机械系统

运动轴7轴,运动轴定位精度±5μm,最大样品重量60kg,辐射防护在距离箱体外200mm及以上处的任何位置<0.8μSv/h

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