NEPCON前瞻 | 离线&在线全检,福柯斯工业CT半导体行业方案重磅亮相
芯片的失效,往往藏在肉眼无法触及的微米之间。焊点里的一个气泡、背钻孔里的一截残桩、TSV通孔中的一处填充空洞,都足以让整块高端板卡在客户端彻底失灵。如何在不破坏样品的前提下,把这些隐患看清楚?上海福柯斯智能科技有限公司给出的答案,既有离线、也有在线全检两套工业CT半导体行业方案。
高精度平面CT FXO-PCT1600
0.9um精度 · 大板兼容 · 多模3D-CT
作为专为电子半导体研发、失效分析及PCB制程管控打造的高端离线CT系统,高精度平面CT FXO-PCT1600搭载160kV微焦点开放式球管与大尺寸平板探测器,JIMA分辨率达到0.9μm,支持2D、2.5D及3D CT(含平面CT)多种成像模式。针对高温工况,设备可配置CT舱内原位加热器,实现350℃精准控温下的动态热失效分析,实时观测晶圆裂纹、脱焊、虚焊、BGA焊球裂纹、封装裂纹、基板裂纹、电阻/电容破坏等动态演变。
检测展示
电容内部开裂
元器件接触不良
焊锡异常
引线键合断线
高速在线3D AXI FXO-PCT1000系列
在线全检 · 3DX-ray · AI智能判定
高速在线3D AXI FXO-PCT1000系列,是面向IC电子与半导体的高速在线检测平台,适配SMT产线末端场景,对标国际一线产品,依托三维 X 射线成像技术,对复杂重叠结构自动启用动态平面 CT 与有限角层析核验,分辨率覆盖3–50μm,可在量产节拍内完成 100% 全板在线全检,实现自动识别与AI智能分析。
检测展示
锡球桥接
锡球空洞
AI自动识别孔隙
AI自动识别孔隙
见微知著,臻于至善——把缺陷留在出厂之前,把可靠交到客户手中。10月26日至29日,福柯斯在深圳国际会展中心(宝安新馆)13号馆A30展位恭候各位新老客户朋友的莅临,现场还有互动游戏与精美好礼相送。
